DRK-W ਸੀਰੀਜ਼ ਲੇਜ਼ਰ ਪਾਰਟੀਕਲ ਸਾਈਜ਼ ਐਨਾਲਾਈਜ਼ਰ

DRK-W ਸੀਰੀਜ਼ ਲੇਜ਼ਰ ਕਣ ਆਕਾਰ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਕ ਦੀ ਉੱਚ ਗੁਣਵੱਤਾ ਅਤੇ ਟੈਸਟ ਕੀਤੇ ਨਮੂਨਿਆਂ ਦੀ ਵਿਸ਼ਾਲ ਸ਼੍ਰੇਣੀ ਇਸ ਨੂੰ ਬਹੁਤ ਸਾਰੇ ਖੇਤਰਾਂ ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਪ੍ਰਯੋਗਸ਼ਾਲਾ ਪ੍ਰਯੋਗਾਤਮਕ ਖੋਜ ਅਤੇ ਉਦਯੋਗਿਕ ਉਤਪਾਦਨ ਗੁਣਵੱਤਾ ਨਿਯੰਤਰਣ ਵਿੱਚ ਵਿਆਪਕ ਤੌਰ 'ਤੇ ਵਰਤੀ ਜਾਂਦੀ ਹੈ। ਉਦਾਹਰਨ ਲਈ: ਸਮੱਗਰੀ, ਰਸਾਇਣ, ਫਾਰਮਾਸਿਊਟੀਕਲ, ਵਧੀਆ ਵਸਰਾਵਿਕ, ਨਿਰਮਾਣ ਸਮੱਗਰੀ, ਪੈਟਰੋਲੀਅਮ, ਇਲੈਕਟ੍ਰਿਕ ਪਾਵਰ, ਧਾਤੂ ਵਿਗਿਆਨ, ਭੋਜਨ, ਸ਼ਿੰਗਾਰ, ਪੌਲੀਮਰ, ਪੇਂਟ, ਕੋਟਿੰਗ, ਕਾਰਬਨ ਬਲੈਕ, ਕੈਓਲਿਨ, ਆਕਸਾਈਡ, ਕਾਰਬੋਨੇਟਸ, ਮੈਟਲ ਪਾਊਡਰ, ਰਿਫ੍ਰੈਕਟਰੀ ਸਮੱਗਰੀ, ਐਡਿਟਿਵ ਆਦਿ ਉਤਪਾਦਨ ਦੇ ਕੱਚੇ ਮਾਲ, ਉਤਪਾਦਾਂ, ਵਿਚਕਾਰਲੇ ਪਦਾਰਥਾਂ ਆਦਿ ਦੇ ਤੌਰ 'ਤੇ ਕਣਾਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰੋ।

ਵਿਗਿਆਨ ਅਤੇ ਤਕਨਾਲੋਜੀ ਦੀ ਵਧਦੀ ਤਰੱਕੀ ਅਤੇ ਵਿਕਾਸ ਦੇ ਨਾਲ, ਰਾਸ਼ਟਰੀ ਅਰਥਚਾਰੇ ਦੇ ਕਈ ਖੇਤਰਾਂ ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਊਰਜਾ, ਬਿਜਲੀ, ਮਸ਼ੀਨਰੀ, ਦਵਾਈ, ਰਸਾਇਣਕ ਉਦਯੋਗ, ਹਲਕਾ ਉਦਯੋਗ, ਧਾਤੂ ਵਿਗਿਆਨ, ਨਿਰਮਾਣ ਸਮੱਗਰੀ ਅਤੇ ਹੋਰ ਉਦਯੋਗਾਂ ਵਿੱਚ ਵੱਧ ਤੋਂ ਵੱਧ ਬਰੀਕ ਕਣ ਪ੍ਰਗਟ ਹੋਏ ਹਨ। ਤਕਨੀਕੀ ਸਮੱਸਿਆਵਾਂ ਦਾ ਅਜੇ ਹੱਲ ਹੋਣਾ ਬਾਕੀ ਹੈ, ਅਤੇ ਕਣਾਂ ਦੇ ਆਕਾਰ ਦਾ ਮਾਪ ਸਭ ਤੋਂ ਬੁਨਿਆਦੀ ਅਤੇ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਪਹਿਲੂਆਂ ਵਿੱਚੋਂ ਇੱਕ ਹੈ। ਬਹੁਤ ਸਾਰੇ ਮਾਮਲਿਆਂ ਵਿੱਚ, ਕਣਾਂ ਦੇ ਆਕਾਰ ਦਾ ਆਕਾਰ ਨਾ ਸਿਰਫ਼ ਉਤਪਾਦ ਦੀ ਕਾਰਗੁਜ਼ਾਰੀ ਅਤੇ ਗੁਣਵੱਤਾ ਨੂੰ ਸਿੱਧੇ ਤੌਰ 'ਤੇ ਪ੍ਰਭਾਵਿਤ ਕਰਦਾ ਹੈ, ਸਗੋਂ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਦੇ ਅਨੁਕੂਲਨ, ਊਰਜਾ ਦੀ ਖਪਤ ਵਿੱਚ ਕਮੀ, ਅਤੇ ਵਾਤਾਵਰਣ ਪ੍ਰਦੂਸ਼ਣ ਦੀ ਕਮੀ ਨਾਲ ਵੀ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਸਬੰਧ ਰੱਖਦਾ ਹੈ। ਹਾਲ ਹੀ ਦੇ ਸਾਲਾਂ ਵਿੱਚ, ਉੱਚ-ਤਕਨੀਕੀ, ਰਾਸ਼ਟਰੀ ਰੱਖਿਆ ਉਦਯੋਗ, ਫੌਜੀ ਵਿਗਿਆਨ, ਆਦਿ ਨਾਲ ਨੇੜਿਓਂ ਸਬੰਧਤ ਵੱਖ-ਵੱਖ ਨਵੀਆਂ ਕਣ ਸਮੱਗਰੀਆਂ, ਖਾਸ ਤੌਰ 'ਤੇ ਅਲਟਰਾਫਾਈਨ ਨੈਨੋਪਾਰਟਿਕਲਜ਼ ਦੇ ਆਗਮਨ ਅਤੇ ਉਪਯੋਗਤਾ, ਨੇ ਕਣਾਂ ਦੇ ਆਕਾਰ ਦੇ ਮਾਪ ਲਈ ਨਵੀਆਂ ਅਤੇ ਉੱਚ ਲੋੜਾਂ ਨੂੰ ਅੱਗੇ ਰੱਖਿਆ ਹੈ। ਨਾ ਸਿਰਫ਼ ਤੇਜ਼ ਅਤੇ ਸਵੈਚਲਿਤ ਡਾਟਾ ਪ੍ਰੋਸੈਸਿੰਗ ਦੀ ਲੋੜ ਹੈ, ਸਗੋਂ ਵਿਗਿਆਨਕ ਖੋਜ ਅਤੇ ਉਦਯੋਗਿਕ ਗੁਣਵੱਤਾ ਨਿਯੰਤਰਣ ਐਪਲੀਕੇਸ਼ਨਾਂ ਦੀਆਂ ਲੋੜਾਂ ਨੂੰ ਪੂਰਾ ਕਰਨ ਲਈ ਭਰੋਸੇਯੋਗ ਅਤੇ ਅਮੀਰ ਡੇਟਾ ਅਤੇ ਵਧੇਰੇ ਉਪਯੋਗੀ ਜਾਣਕਾਰੀ ਦੀ ਵੀ ਲੋੜ ਹੈ। TS-W ਸੀਰੀਜ਼ ਲੇਜ਼ਰ ਪਾਰਟੀਕਲ ਸਾਈਜ਼ ਐਨਾਲਾਈਜ਼ਰ ਲੇਜ਼ਰ ਪਾਰਟੀਕਲ ਸਾਈਜ਼ ਐਨਾਲਾਈਜ਼ਰ ਦੀ ਨਵੀਨਤਮ ਪੀੜ੍ਹੀ ਹੈ ਜੋ ਉਪਭੋਗਤਾਵਾਂ ਦੀਆਂ ਉਪਰੋਕਤ ਨਵੀਆਂ ਜ਼ਰੂਰਤਾਂ ਨੂੰ ਪੂਰਾ ਕਰਨ ਲਈ ਧਿਆਨ ਨਾਲ ਵਿਕਸਿਤ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਹੈ। ਇਹ ਸਾਧਨ ਉੱਨਤ ਲੇਜ਼ਰ ਤਕਨਾਲੋਜੀ, ਸੈਮੀਕੰਡਕਟਰ ਤਕਨਾਲੋਜੀ, ਆਪਟੋਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨਿਕ ਤਕਨਾਲੋਜੀ, ਮਾਈਕ੍ਰੋਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨਿਕ ਤਕਨਾਲੋਜੀ ਅਤੇ ਕੰਪਿਊਟਰ ਤਕਨਾਲੋਜੀ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਨੂੰ ਏਕੀਕ੍ਰਿਤ ਕਰਦਾ ਹੈ, ਅਤੇ ਰੌਸ਼ਨੀ, ਮਸ਼ੀਨ, ਬਿਜਲੀ ਅਤੇ ਕੰਪਿਊਟਰ ਨੂੰ ਏਕੀਕ੍ਰਿਤ ਕਰਦਾ ਹੈ। ਲਾਈਟ ਸਕੈਟਰਿੰਗ ਥਿਊਰੀ 'ਤੇ ਆਧਾਰਿਤ ਕਣਾਂ ਦਾ ਆਕਾਰ ਮਾਪਣ ਤਕਨਾਲੋਜੀ ਦੇ ਬੇਮਿਸਾਲ ਫਾਇਦੇ ਹੌਲੀ-ਹੌਲੀ ਕੁਝ ਰਵਾਇਤੀ ਮਾਪਣ ਦੇ ਤਰੀਕਿਆਂ ਦੀ ਬਜਾਏ, ਇਹ ਯਕੀਨੀ ਤੌਰ 'ਤੇ ਕਣਾਂ ਦੇ ਆਕਾਰ ਨੂੰ ਮਾਪਣ ਵਾਲੇ ਯੰਤਰਾਂ ਦੀ ਨਵੀਂ ਪੀੜ੍ਹੀ ਬਣ ਜਾਵੇਗਾ। ਅਤੇ ਇਹ ਵਿਗਿਆਨਕ ਖੋਜ ਅਤੇ ਉਦਯੋਗਿਕ ਗੁਣਵੱਤਾ ਨਿਯੰਤਰਣ ਦੇ ਖੇਤਰ ਵਿੱਚ ਕਣਾਂ ਦੇ ਆਕਾਰ ਦੀ ਵੰਡ ਦੇ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਵਿੱਚ ਇੱਕ ਵਧਦੀ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਭੂਮਿਕਾ ਨਿਭਾਉਂਦਾ ਹੈ.
DRK-W ਸੀਰੀਜ਼ ਲੇਜ਼ਰ ਕਣ ਆਕਾਰ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਕ ਦੀ ਉੱਚ ਗੁਣਵੱਤਾ ਅਤੇ ਟੈਸਟ ਕੀਤੇ ਨਮੂਨਿਆਂ ਦੀ ਵਿਸ਼ਾਲ ਸ਼੍ਰੇਣੀ ਇਸ ਨੂੰ ਬਹੁਤ ਸਾਰੇ ਖੇਤਰਾਂ ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਪ੍ਰਯੋਗਸ਼ਾਲਾ ਪ੍ਰਯੋਗਾਤਮਕ ਖੋਜ ਅਤੇ ਉਦਯੋਗਿਕ ਉਤਪਾਦਨ ਗੁਣਵੱਤਾ ਨਿਯੰਤਰਣ ਵਿੱਚ ਵਿਆਪਕ ਤੌਰ 'ਤੇ ਵਰਤੀ ਜਾਂਦੀ ਹੈ। ਉਦਾਹਰਨ ਲਈ: ਸਮੱਗਰੀ, ਰਸਾਇਣ, ਫਾਰਮਾਸਿਊਟੀਕਲ, ਵਧੀਆ ਵਸਰਾਵਿਕ, ਨਿਰਮਾਣ ਸਮੱਗਰੀ, ਪੈਟਰੋਲੀਅਮ, ਇਲੈਕਟ੍ਰਿਕ ਪਾਵਰ, ਧਾਤੂ ਵਿਗਿਆਨ, ਭੋਜਨ, ਸ਼ਿੰਗਾਰ, ਪੌਲੀਮਰ, ਪੇਂਟ, ਕੋਟਿੰਗ, ਕਾਰਬਨ ਬਲੈਕ, ਕੈਓਲਿਨ, ਆਕਸਾਈਡ, ਕਾਰਬੋਨੇਟਸ, ਮੈਟਲ ਪਾਊਡਰ, ਰਿਫ੍ਰੈਕਟਰੀ ਸਮੱਗਰੀ, ਐਡਿਟਿਵ ਆਦਿ ਕੱਚੇ ਮਾਲ, ਉਤਪਾਦਾਂ, ਵਿਚਕਾਰਲੇ ਪਦਾਰਥਾਂ ਆਦਿ ਦੇ ਤੌਰ 'ਤੇ ਕਣਾਂ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰੋ।

ਤਕਨੀਕੀ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ:
1. ਵਿਲੱਖਣ ਸੈਮੀਕੰਡਕਟਰ ਰੈਫ੍ਰਿਜਰੇਸ਼ਨ ਥਰਮੋਸਟੈਟਿਕ ਤੌਰ 'ਤੇ ਨਿਯੰਤਰਿਤ ਹਰੇ ਠੋਸ-ਸਟੇਟ ਲੇਜ਼ਰ ਨੂੰ ਰੌਸ਼ਨੀ ਸਰੋਤ ਵਜੋਂ, ਛੋਟੀ ਤਰੰਗ-ਲੰਬਾਈ, ਛੋਟੇ ਆਕਾਰ, ਸਥਿਰ ਕੰਮ ਅਤੇ ਲੰਬੀ ਉਮਰ ਦੇ ਨਾਲ;
2. ਇੱਕ ਵੱਡੀ ਮਾਪ ਸੀਮਾ ਨੂੰ ਯਕੀਨੀ ਬਣਾਉਣ ਲਈ ਵਿਲੱਖਣ ਤੌਰ 'ਤੇ ਤਿਆਰ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਵੱਡੇ-ਵਿਆਸ ਲਾਈਟ ਟੀਚੇ, ਲੈਂਸ ਨੂੰ ਬਦਲਣ ਜਾਂ 0.1-1000 ਮਾਈਕਰੋਨ ਦੀ ਪੂਰੀ ਮਾਪ ਸੀਮਾ ਦੇ ਅੰਦਰ ਨਮੂਨੇ ਦੇ ਸੈੱਲ ਨੂੰ ਮੂਵ ਕਰਨ ਦੀ ਕੋਈ ਲੋੜ ਨਹੀਂ ਹੈ;
3. ਖੋਜ ਦੇ ਸਾਲਾਂ ਦੇ ਨਤੀਜਿਆਂ ਨੂੰ ਇਕੱਠਾ ਕਰਨਾ, ਮਾਈਕਲਿਸ ਥਿਊਰੀ ਦਾ ਸੰਪੂਰਨ ਉਪਯੋਗ;
4. ਕਣ ਮਾਪ ਦੀ ਸ਼ੁੱਧਤਾ ਨੂੰ ਯਕੀਨੀ ਬਣਾਉਣ ਲਈ ਵਿਲੱਖਣ ਉਲਟ ਅਲਗੋਰਿਦਮ;
5. USB ਇੰਟਰਫੇਸ, ਇੰਸਟਰੂਮੈਂਟ ਅਤੇ ਕੰਪਿਊਟਰ ਏਕੀਕਰਣ, ਏਮਬੇਡਡ 10.8-ਇੰਚ ਉਦਯੋਗਿਕ-ਗਰੇਡ ਕੰਪਿਊਟਰ, ਕੀਬੋਰਡ, ਮਾਊਸ, ਯੂ ਡਿਸਕ ਨੂੰ ਜੋੜਿਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ
6. ਸਰਕੂਲੇਟਿੰਗ ਨਮੂਨਾ ਪੂਲ ਜਾਂ ਸਥਿਰ ਨਮੂਨਾ ਪੂਲ ਨੂੰ ਮਾਪ ਦੌਰਾਨ ਚੁਣਿਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ, ਅਤੇ ਲੋੜ ਅਨੁਸਾਰ ਦੋਵਾਂ ਨੂੰ ਬਦਲਿਆ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ;
7. ਨਮੂਨਾ ਸੈੱਲ ਦਾ ਮਾਡਯੂਲਰ ਡਿਜ਼ਾਈਨ, ਵੱਖ ਵੱਖ ਟੈਸਟ ਮੋਡਾਂ ਨੂੰ ਮੋਡੀਊਲ ਨੂੰ ਬਦਲ ਕੇ ਮਹਿਸੂਸ ਕੀਤਾ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ; ਸਰਕੂਲੇਟਿੰਗ ਨਮੂਨਾ ਸੈੱਲ ਵਿੱਚ ਇੱਕ ਬਿਲਟ-ਇਨ ਅਲਟਰਾਸੋਨਿਕ ਫੈਲਾਅ ਯੰਤਰ ਹੈ, ਜੋ ਪ੍ਰਭਾਵਸ਼ਾਲੀ ਢੰਗ ਨਾਲ ਇਕੱਠੇ ਕੀਤੇ ਕਣਾਂ ਨੂੰ ਖਿਲਾਰ ਸਕਦਾ ਹੈ
8. ਨਮੂਨਾ ਮਾਪ ਪੂਰੀ ਤਰ੍ਹਾਂ ਆਟੋਮੈਟਿਕ ਹੋ ਸਕਦਾ ਹੈ. ਨਮੂਨੇ ਜੋੜਨ ਤੋਂ ਇਲਾਵਾ, ਜਦੋਂ ਤੱਕ ਡਿਸਟਿਲਡ ਵਾਟਰ ਇਨਲੇਟ ਪਾਈਪ ਅਤੇ ਡਰੇਨ ਪਾਈਪ ਜੁੜੇ ਹੋਏ ਹਨ, ਅਲਟਰਾਸੋਨਿਕ ਡਿਸਪਰਸ਼ਨ ਡਿਵਾਈਸ ਦੀ ਵਾਟਰ ਇਨਲੇਟ, ਮਾਪ, ਡਰੇਨੇਜ, ਸਫਾਈ, ਅਤੇ ਐਕਟੀਵੇਸ਼ਨ ਪੂਰੀ ਤਰ੍ਹਾਂ ਸਵੈਚਾਲਿਤ ਹੋ ਸਕਦਾ ਹੈ, ਅਤੇ ਮੈਨੂਅਲ ਮਾਪ ਮੀਨੂ ਵੀ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕੀਤੇ ਗਏ ਹਨ। ;
9. ਸੌਫਟਵੇਅਰ ਵਿਅਕਤੀਗਤ ਹੈ, ਬਹੁਤ ਸਾਰੇ ਫੰਕਸ਼ਨ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕਰਦਾ ਹੈ ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਮਾਪ ਵਿਜ਼ਾਰਡ, ਜੋ ਉਪਭੋਗਤਾਵਾਂ ਲਈ ਕੰਮ ਕਰਨ ਲਈ ਸੁਵਿਧਾਜਨਕ ਹੈ;
10. ਮਾਪ ਨਤੀਜਾ ਆਉਟਪੁੱਟ ਡੇਟਾ ਅਮੀਰ ਹੈ, ਡੇਟਾਬੇਸ ਵਿੱਚ ਸਟੋਰ ਕੀਤਾ ਗਿਆ ਹੈ, ਅਤੇ ਕਿਸੇ ਵੀ ਮਾਪਦੰਡਾਂ ਨਾਲ ਕਾਲ ਕੀਤਾ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ ਅਤੇ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਕੀਤਾ ਜਾ ਸਕਦਾ ਹੈ, ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਆਪਰੇਟਰ ਦਾ ਨਾਮ, ਨਮੂਨਾ ਨਾਮ, ਮਿਤੀ, ਸਮਾਂ, ਆਦਿ, ਦੂਜੇ ਸੌਫਟਵੇਅਰ ਨਾਲ ਡੇਟਾ ਸ਼ੇਅਰਿੰਗ ਦਾ ਅਹਿਸਾਸ ਕਰਨ ਲਈ;
11. ਯੰਤਰ ਦਿੱਖ ਵਿਚ ਸੁੰਦਰ, ਆਕਾਰ ਵਿਚ ਛੋਟਾ ਅਤੇ ਭਾਰ ਵਿਚ ਹਲਕਾ ਹੈ;
12. ਮਾਪ ਦੀ ਸ਼ੁੱਧਤਾ ਉੱਚ ਹੈ, ਦੁਹਰਾਉਣ ਦੀ ਸਮਰੱਥਾ ਚੰਗੀ ਹੈ, ਅਤੇ ਮਾਪ ਦਾ ਸਮਾਂ ਛੋਟਾ ਹੈ;
13. ਸਾੱਫਟਵੇਅਰ ਉਪਭੋਗਤਾਵਾਂ ਨੂੰ ਮਾਪਿਆ ਕਣ ਦੇ ਰਿਫ੍ਰੈਕਟਿਵ ਇੰਡੈਕਸ ਨੂੰ ਲੱਭਣ ਲਈ ਉਪਭੋਗਤਾ ਦੀਆਂ ਜ਼ਰੂਰਤਾਂ ਨੂੰ ਪੂਰਾ ਕਰਨ ਲਈ ਚੁਣਨ ਲਈ ਬਹੁਤ ਸਾਰੇ ਪਦਾਰਥਾਂ ਦਾ ਅਪਵਰਤੀ ਸੂਚਕਾਂਕ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕਰਦਾ ਹੈ;
14. ਟੈਸਟ ਦੇ ਨਤੀਜਿਆਂ ਦੀ ਗੁਪਤਤਾ ਦੀਆਂ ਲੋੜਾਂ ਨੂੰ ਧਿਆਨ ਵਿੱਚ ਰੱਖਦੇ ਹੋਏ, ਸਿਰਫ਼ ਅਧਿਕਾਰਤ ਓਪਰੇਟਰ ਹੀ ਡੇਟਾ ਅਤੇ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ ਨੂੰ ਪੜ੍ਹਨ ਲਈ ਸੰਬੰਧਿਤ ਡੇਟਾਬੇਸ ਵਿੱਚ ਦਾਖਲ ਹੋ ਸਕਦੇ ਹਨ;
15. ਇਹ ਸਾਧਨ ਹੇਠਾਂ ਦਿੱਤੇ ਮਾਪਦੰਡਾਂ ਨੂੰ ਪੂਰਾ ਕਰਦਾ ਹੈ ਪਰ ਸੀਮਿਤ ਨਹੀਂ ਹੈ:
ISO 13320-2009 G/BT 19077.1-2008 ਕਣ ਆਕਾਰ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਲੇਜ਼ਰ ਵਿਭਿੰਨਤਾ ਵਿਧੀ

ਤਕਨੀਕੀ ਪੈਰਾਮੀਟਰ:

ਕੰਮ ਕਰਨ ਦੀਆਂ ਸ਼ਰਤਾਂ:
1. ਅੰਦਰੂਨੀ ਤਾਪਮਾਨ: 15℃-35℃
2. ਸਾਪੇਖਿਕ ਤਾਪਮਾਨ: 85% ਤੋਂ ਵੱਧ ਨਹੀਂ (ਕੋਈ ਸੰਘਣਾਪਣ ਨਹੀਂ)
3. ਮਜ਼ਬੂਤ ​​ਚੁੰਬਕੀ ਖੇਤਰ ਦਖਲ ਤੋਂ ਬਿਨਾਂ AC ਪਾਵਰ ਸਪਲਾਈ 1KV ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਨ ਦੀ ਸਿਫਾਰਸ਼ ਕੀਤੀ ਜਾਂਦੀ ਹੈ।
4. ਮਾਈਕ੍ਰੋਨ ਰੇਂਜ ਵਿੱਚ ਮਾਪ ਦੇ ਕਾਰਨ, ਯੰਤਰ ਨੂੰ ਇੱਕ ਮਜ਼ਬੂਤ, ਭਰੋਸੇਮੰਦ, ਵਾਈਬ੍ਰੇਸ਼ਨ-ਮੁਕਤ ਵਰਕਬੈਂਚ 'ਤੇ ਰੱਖਿਆ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ, ਅਤੇ ਮਾਪ ਘੱਟ ਧੂੜ ਵਾਲੀਆਂ ਸਥਿਤੀਆਂ ਵਿੱਚ ਕੀਤਾ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ।
5. ਯੰਤਰ ਨੂੰ ਸਿੱਧੀ ਧੁੱਪ, ਤੇਜ਼ ਹਵਾ, ਜਾਂ ਤਾਪਮਾਨ ਵਿੱਚ ਵੱਡੇ ਬਦਲਾਅ ਦੇ ਸੰਪਰਕ ਵਿੱਚ ਨਹੀਂ ਰੱਖਿਆ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ।
6. ਸੁਰੱਖਿਆ ਅਤੇ ਉੱਚ ਸ਼ੁੱਧਤਾ ਨੂੰ ਯਕੀਨੀ ਬਣਾਉਣ ਲਈ ਸਾਜ਼-ਸਾਮਾਨ ਨੂੰ ਆਧਾਰਿਤ ਕੀਤਾ ਜਾਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ.
7. ਕਮਰਾ ਸਾਫ਼-ਸੁਥਰਾ, ਧੂੜ-ਪਰੂਫ਼ ਅਤੇ ਖ਼ਰਾਬ ਰਹਿਤ ਹੋਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ।