DRK8090 ਫੋਟੋਇਲੈਕਟ੍ਰਿਕ ਪ੍ਰੋਫਾਈਲਰ

ਇਹ ਸਾਧਨ ਗੈਰ-ਸੰਪਰਕ, ਆਪਟੀਕਲ ਫੇਜ਼-ਸ਼ਿਫਟਿੰਗ ਇੰਟਰਫੇਰੋਮੈਟ੍ਰਿਕ ਮਾਪ ਵਿਧੀ ਨੂੰ ਅਪਣਾਉਂਦਾ ਹੈ, ਮਾਪ ਦੌਰਾਨ ਵਰਕਪੀਸ ਦੀ ਸਤਹ ਨੂੰ ਨੁਕਸਾਨ ਨਹੀਂ ਪਹੁੰਚਾਉਂਦਾ, ਵੱਖ ਵੱਖ ਵਰਕਪੀਸ ਦੀ ਸਤਹ ਮਾਈਕ੍ਰੋ-ਟੌਪੋਗ੍ਰਾਫੀ ਦੇ ਤਿੰਨ-ਅਯਾਮੀ ਗ੍ਰਾਫਿਕਸ ਨੂੰ ਤੇਜ਼ੀ ਨਾਲ ਮਾਪ ਸਕਦਾ ਹੈ, ਅਤੇ ਮਾਪ ਦਾ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਅਤੇ ਗਣਨਾ ਕਰ ਸਕਦਾ ਹੈ। ਨਤੀਜੇ

ਉਤਪਾਦ ਵਰਣਨ
ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ: ਵੱਖ-ਵੱਖ ਗੇਜ ਬਲਾਕਾਂ ਅਤੇ ਆਪਟੀਕਲ ਹਿੱਸਿਆਂ ਦੀ ਸਤਹ ਦੀ ਖੁਰਦਰੀ ਨੂੰ ਮਾਪਣ ਲਈ ਉਚਿਤ; ਸ਼ਾਸਕ ਅਤੇ ਡਾਇਲ ਦੇ ਜਾਲ ਦੀ ਡੂੰਘਾਈ; ਗਰੇਟਿੰਗ ਗਰੂਵ ਬਣਤਰ ਦੀ ਕੋਟਿੰਗ ਦੀ ਮੋਟਾਈ ਅਤੇ ਕੋਟਿੰਗ ਸੀਮਾ ਦੀ ਬਣਤਰ ਰੂਪ ਵਿਗਿਆਨ; ਚੁੰਬਕੀ (ਆਪਟੀਕਲ) ਡਿਸਕ ਦੀ ਸਤਹ ਅਤੇ ਚੁੰਬਕੀ ਸਿਰ ਬਣਤਰ ਮਾਪ; ਸਿਲੀਕਾਨ ਵੇਫਰ ਸਤਹ ਖੁਰਦਰੀ ਅਤੇ ਪੈਟਰਨ ਬਣਤਰ ਮਾਪ, ਆਦਿ.
ਸਾਧਨ ਦੀ ਉੱਚ ਮਾਪ ਸ਼ੁੱਧਤਾ ਦੇ ਕਾਰਨ, ਇਸ ਵਿੱਚ ਗੈਰ-ਸੰਪਰਕ ਅਤੇ ਤਿੰਨ-ਅਯਾਮੀ ਮਾਪ ਦੀਆਂ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ਤਾਵਾਂ ਹਨ, ਅਤੇ ਕੰਪਿਊਟਰ ਨਿਯੰਤਰਣ ਅਤੇ ਮਾਪ ਦੇ ਨਤੀਜਿਆਂ ਦੇ ਤੇਜ਼ ਵਿਸ਼ਲੇਸ਼ਣ ਅਤੇ ਗਣਨਾ ਨੂੰ ਅਪਣਾਉਂਦੀ ਹੈ। ਇਹ ਯੰਤਰ ਟੈਸਟਿੰਗ ਅਤੇ ਮਾਪ ਖੋਜ ਇਕਾਈਆਂ ਦੇ ਸਾਰੇ ਪੱਧਰਾਂ, ਉਦਯੋਗਿਕ ਅਤੇ ਮਾਈਨਿੰਗ ਐਂਟਰਪ੍ਰਾਈਜ਼ ਮਾਪਣ ਕਮਰੇ, ਸ਼ੁੱਧਤਾ ਪ੍ਰੋਸੈਸਿੰਗ ਵਰਕਸ਼ਾਪਾਂ, ਅਤੇ ਉੱਚ ਸਿੱਖਿਆ ਅਤੇ ਵਿਗਿਆਨਕ ਖੋਜ ਸੰਸਥਾਵਾਂ ਆਦਿ ਲਈ ਵੀ ਢੁਕਵਾਂ ਹੈ।
ਮੁੱਖ ਤਕਨੀਕੀ ਮਾਪਦੰਡ
ਸਤਹ ਦੇ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪਿਕ ਅਸਮਾਨਤਾ ਦੀ ਡੂੰਘਾਈ ਦੀ ਰੇਂਜ ਨੂੰ ਮਾਪਣਾ
ਇੱਕ ਨਿਰੰਤਰ ਸਤਹ 'ਤੇ, ਜਦੋਂ ਦੋ ਨਜ਼ਦੀਕੀ ਪਿਕਸਲਾਂ ਵਿਚਕਾਰ 1/4 ਤਰੰਗ-ਲੰਬਾਈ ਤੋਂ ਵੱਧ ਉਚਾਈ ਵਿੱਚ ਅਚਾਨਕ ਕੋਈ ਬਦਲਾਅ ਨਹੀਂ ਹੁੰਦਾ ਹੈ: 1000-1nm
ਜਦੋਂ ਦੋ ਨਜ਼ਦੀਕੀ ਪਿਕਸਲਾਂ ਵਿਚਕਾਰ ਤਰੰਗ-ਲੰਬਾਈ ਦੇ 1/4 ਤੋਂ ਵੱਧ ਉਚਾਈ ਦਾ ਪਰਿਵਰਤਨ ਹੁੰਦਾ ਹੈ: 130-1nm
ਮਾਪ ਦੀ ਦੁਹਰਾਉਣਯੋਗਤਾ: δRa ≤0.5nm
ਉਦੇਸ਼ ਲੈਂਸ ਵਿਸਤਾਰ: 40X
ਸੰਖਿਆਤਮਕ ਅਪਰਚਰ: Φ 65
ਕੰਮ ਕਰਨ ਦੀ ਦੂਰੀ: 0.5mm
ਵਿਜ਼ੂਅਲ ਦਾ ਸਾਧਨ ਖੇਤਰ: Φ0.25mm
ਫੋਟੋ: 0.13×0.13mm
ਇੰਸਟਰੂਮੈਂਟ ਵੱਡਦਰਸ਼ੀ ਵਿਜ਼ੂਅਲ: 500×
ਫੋਟੋਗ੍ਰਾਫ (ਕੰਪਿਊਟਰ ਸਕਰੀਨ ਦੁਆਰਾ ਦੇਖਿਆ ਗਿਆ)-2500×
ਰਿਸੀਵਰ ਮਾਪ ਐਰੇ: 1000X1000
ਪਿਕਸਲ ਆਕਾਰ: 5.2×5.2µm
ਮਾਪ ਦਾ ਸਮਾਂ ਸੈਂਪਲਿੰਗ (ਸਕੈਨਿੰਗ) ਸਮਾਂ: 1 ਐੱਸ
ਇੰਸਟਰੂਮੈਂਟ ਸਟੈਂਡਰਡ ਸ਼ੀਸ਼ੇ ਦੀ ਪ੍ਰਤੀਬਿੰਬਤਾ (ਉੱਚ): 50%
ਪ੍ਰਤੀਬਿੰਬ (ਘੱਟ): ～4%
ਰੋਸ਼ਨੀ ਸਰੋਤ: ਇਨਕੈਂਡੀਸੈਂਟ ਲੈਂਪ 6V 5W
ਗ੍ਰੀਨ ਇੰਟਰਫਰੈਂਸ ਫਿਲਟਰ ਵੇਵ-ਲੰਬਾਈ: λ≒530nm
ਅੱਧੀ ਚੌੜਾਈ λ≒10nm
ਮੁੱਖ ਮਾਈਕ੍ਰੋਸਕੋਪ ਲਿਫਟ: 110 ਮਿਲੀਮੀਟਰ
ਟੇਬਲ ਲਿਫਟ: 5 ਮਿਲੀਮੀਟਰ
X ਅਤੇ Y ਦਿਸ਼ਾ ਵਿੱਚ ਅੰਦੋਲਨ ਦੀ ਰੇਂਜ: ～10 ਮਿਲੀਮੀਟਰ
ਵਰਕਟੇਬਲ ਦੀ ਰੋਟੇਸ਼ਨਲ ਰੇਂਜ: 360°
ਵਰਕਿੰਗ ਟੇਬਲ ਦੀ ਝੁਕਾਓ ਰੇਂਜ: ±6°
ਕੰਪਿਊਟਰ ਸਿਸਟਮ: P4, 2.8G ਜਾਂ ਵੱਧ, 1G ਜਾਂ ਵੱਧ ਮੈਮੋਰੀ ਵਾਲਾ 17-ਇੰਚ ਫਲੈਟ-ਸਕ੍ਰੀਨ ਡਿਸਪਲੇ